Alkuaine- ja metallianalytiikka

Eltra alkuaineanalysaattorilla voit analysoida CS ja ONH pitoisuudet vaikeasti hajotettavista näytteistä. Elementrac sarjan laitteiden induktio- ja impulssiuunit tuottavat tasaiset polttolämpötilat. Laitteissa käytetyt NDIR ja TCD detektorit täyttävät kaikki kansainvälisten standardien vaatimukset.

 

 

 

 

 

 

 

Tyypillisiä näytteitä ovat metalliseokset, tuhka, karbidimateriaalit, sementti, hiili, keraamiset materiaalit, koksi, kupari, lasi, kipsi, mineraalit, kumi, hiekat sekä erilaiset teräslaadut ja titaani. Innovatiiviset Autoloader näytteenvaihtajat mahdollistavat jopa viikonlopun yli tehtävät katkeamattomat analyysit.

 

 

 

XRF analytiikka

XRF on näytettä hajottamaton analyysitekniikka, jolla voidaan tehdä laadullisia ja määrällisiä analyysejä alkuaineista boorista uraaniin. XRF tekniikat vaativat tavallisesti hyvin vähän näytteenkäsittelyä ja tuloksia saadaan nopeasti. Näyte voi olla nestemäinen tai jauhe, epähomogeenisille kiinteille näytteille suositellaan sulatenapin valmistamista.

 

 

 

 

 

 

 

 

XRF laitteet jaotellaan energiadispersiivisiin (EDXRF) ja aaltodispersiivisiin (WDXRF) laitteistoihin käytetyn mittaperiaatteen ja mittausgeometrian puolesta. WDXRF laitteilla voidaan tehdä kvantitatiivisia analyysejä jopa ppm tasolla. Mittaustekniikan ansiota WDXRF laitteilla on helpompi mitata kevyempiä alkuaineita tarkasti.