Rigakun XRF-laitteistoja käytetään materiaalien alkuaineanalyysiin (B U) tutkimuksessa ja laadunvarmistuksessa. XRF-tekniikoita on energiadispersiivinen ja aaltodispersiivinen, joita käytetään jauheille, puristepelleteille ja sulatteille.
Rigaku ZSX Primus IV ja IVi ovat luotettavia sekä suorituskykyisiä tarkkuutta tai suuria näytemääriä vaativaan alkuaineanalytiikkaan. Nopea kvantitatiivinen analyysi saadaan berylliumista (Be) uraaniin (U) olevista alkuaineista jopa ppm-tasolta.
– Tehokas 4 kW röntgenputki Rh-anodilla.
– Röntgenputken 30 µm Be-ikkuna tuottaa erittäin suuren herkkyyden kevyimmillekin alkuaineille.
– Analyysikiteitä jopa 10 kpl, jotta kevyimmillekin alkuaineille saadaan optimaalinen herkkyys.
– Optiikka näytteen yläpuolella (ZSX Primus IV).
– Optiikka näytteen alapuolella (ZSX Primus IVi).
– Mapping-optiossa näytteen alkuainekartat ja semikvantitatiiviset pisteanalyysit jopa 500 µm:n kohteista
– Automaattinen vakuumisäätö mittauskammiossa.
– Käyttäjää opastava ZSX Guidance -ohjelmisto
– Monipuoliset analyysiohjelmistot mm. empiirinen kalibrointi ja FP (Fundamental Parameters) menetelmä
